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X射線衍射點陣常數的精確測定
點陣常數是晶體物質的基本結構參數，測定點陣常數在研究固態相變、確定固溶體類型、測定固溶體溶解度曲線、測定熱膨脹系數等方面都得到了應用。點陣常數的測定是通過X射線衍射線的位置（θ ）的測定而獲得的，通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個點陣常數值。
點陣常數測定中的精確度涉及兩個獨立的問題，即波長的精度和布拉格角的測量精度。波長的問題主要是X射線譜學家的責任，衍射工作者的任務是要在波長分布與衍射線分布之間建立一一對應的關系。知道每根反射線的密勒指數后就可以根據不同的晶系用相應的公式計算點陣常數。晶面間距測量的精度隨θ 角的增加而增加， θ越大得到的點陣常數值越精確，因而點陣常數測定時應選用高角度衍射線。誤差一般采用圖解外推法和最小二乘法來消除，點陣常數測定的精確度極限處在1×10-5附近。
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